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Genesis XM2
エネルギー分散型X線分析装置
電子顕微鏡に取り付けて、観察領域の元素組成分析と
マッピング、ラインスキャンが行えます。
材料をより正確に解析するための機能と、あらゆる人にとって
使い勝手のよい操作性を追及しました。
- 操作が簡単で誰でも使用できる。
- エネルギー分解能が良く高感度。
- 誰が測定しても同じ結果が得られる。
- 非導電性サンプルでも正確に分析できる。
- マッピング結果の見直しが自由に行なえる。
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Genesis XM4
エネルギー分散型X線分析装置
電子顕微鏡に取り付けて、観察領域の元素組成分析と
マッピング、ラインスキャンが行えます。
また、電子顕微鏡のステージをEDS側から制御して、
自動分析が行えます。
- Genesis XM2の特徴はそのままに、応用分析に対応します。
- 電子顕微鏡ステージを制御するオートメーション分析。
- 各種検出器（WDS、EBSD）をインテグレートできる拡張性。
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簡単に正確な分析ができる Genesisソフトウェア
画面右側に常にコントロールパネルが表示され、
分析の流れに沿って配置されたボタンを上から
順にクリックしていくだけで分析が完了します。
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どなたが分析しても同じ結果が得られる
定性分析は、自動で簡単に行えます。
また自動定性分析の結果はクリック１つでチェックできます。
実測スペクトラム（赤）とHPDスペクトラム（縁取り）を比較するだけ。
特別な知識やノウハウは必要ありません。
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さまざまな分析条件に対応
定量分析は、事前に登録された補正係数等は一切ない、
完全スタンダードレスを実現しています。
そのため、係数作成時の分析条件にしばられず、
さまざまな条件で正確な定量分析が行えます。
非導電性サンプルでも正確
さらに、非導電性サンプルでは、カーボン蒸着膜による
X線の吸収や、低真空でのスカート効果及び
X線の減衰を補正して、正しく定量分析が行えます。
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Particle Phase Analysis
粒子自動分析ソフトウェア
オプション
BSE像から粒子解析を行い、そのときに得られる粒子の
座標データを使って、すべての粒子について自動分析を行います。
この結果、各粒子についての粒子解析結果による物理的データと、
X線分析による化学組成の両方を得ることができます。
応用例
- フィルターで捕集した粒子の解析
- 金属中の析出粒子の解析による介在物の判定
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GSR
射撃残渣自動分析ソフトウェア
オプション
Genesisの操作性で射撃残渣の自動分析が行えます。
EDAX GSRは射撃残渣自動分析のスタンダードです
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