OIM Analysis™ v8

新しい機能や特長が追加されたことで、OIM Analysis™ v8がEBSDデータ分析能力の基準をリセットし、ユーザーに微細構造特性評価に対する新たな洞察を提供します。
OIM Analysis™ v8 used to improve initial data (left) with ChI-Scan™ reindexing (right) for accurate phase mapping on an Al-Si alloy (primary phase - red, eutectic phase - blue)
新しい機能:
  • マルチスレッド化された操作 - より速いマップ表現、ハイライト機能、および各種計算のために、最先端のマルチコアCPUの利点を活かせるよう最適化されたコード
  • EBSDパターン指数付け - 走査電子顕微鏡 (SEM) から離れている時に、EDAXのトリプレット指数付け ChI-Scan™と、Neighbor Pattern Averaging and Reindexing (NPAR™) テクノロジーを利用してOIMマッピングデータセット内の点を再指数付けする機能
  • Anti-Grain 分析 - 指数付けされていないデータポイントを特性評価できるようにします。
  • 相関プロット - 互いに関連づけてプロットされた場合に、2つのEBSDの測定値の関係を視覚化します。
  • HDF5サポート - EBSDをHR-EBSD用のCrossCourtと互換性のあるHDF5形式で保存します
  • 相関顕微鏡 - 視覚化と相関分析のために、空間固有の測定データをインポートします