TEAM™Trident (EDS-EBSD-WDS)

TEAM™ TridentはEDS、EBSD、WDSにおける最新の進歩を1つの分析ツールに集結しました。 使いやすいTEAM™ 分析ソフトウェアに含まれるスマート機能で、それぞれの技術を最適化して個別に使用、または組み合わせてシームレスに統合することができるため、包括的にデータを収集して異なる技術間で共有することが可能になります。
TEAM™ Trident maps

 

  • エネルギー分散型X線分析装置 (EDS)
  • 後方散乱電子回折 (EBSD)
  • 波長分散型X線分析装置 (WDS)

EDS、EBSD、およびWDS分析技術を1つのプラットフォームに統合することで、TEAM™ Trident 分析システムは、完全な材料特性評価ソリューションを提供します。包括的なデータ収集と異なる技術間でのデータ共有によってシームレスな統合が保証されます。それぞれの技術を個々に使用するか、またはこれまで達成できなかった結果を得るためにデータを統合することができます。

エネルギー分散型X線分析装置 (EDS)

EDS 分析は、単純な定性分析から高度な定量計算まで、必要なすべてのツールを提供します。

  • オペレーターの経験レベルによらず、スマート機能によって一貫性のあるデータ収集、分析およびレポートを行うことができます。
  • EXpert ID は分析インテリジェンスを使用してオーバーラップを分離し、マイナーピークをみつけます。

後方散乱電子回折 (EBSD)

EBSD分析は、TEAM™ソフトウェアスイートの使いやすさとOrientation Imaging Microscopy (OIM)の分析力を組み合わせることで、すべてのユーザーに最先端の結晶構造特性評価を提供します。

  • Confidence Index (信頼性指数) (CI):特許取得済みの指数付け精度検証法
  • 特許取得済みのChI-Scan™は指数付け精度と相判定性能が改善され、より高度な多相分析が可能

波長分散型X線分析装置 (WDS)

WDS スキャンは、EDS スペクトル収集を補完して、精度の高い定性分析と定量分析を行えるようにします。

  • 最大限の信号強度を得られる使いやすい自動高さ調整
  • 高エネルギーデータ収集により、最も困難な重複ピークを分離することができます。

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検出器とカメラ

TEAM™Tridentは、EDS検出器としてOctane Eliteシリコンドリフト検出器(SDD)を採用し、主要なアプリケーションのニーズを満たすように設計されています。業界をリードするパルスプロセッサは、広範囲の計数率にわたって高スループットと高分解能を実現します。

EBSD検出器はVelocity™HikariDigiView から選択できます。 CMOSセンサーを搭載したVelocity™は、実サンプルで最高のインデックス精度で最速のマッピングを実現します。 Hikariはスピードと感度のバランスが優れており、DigiViewは高分解能分析に理想的です。

WDS検出器は、TEXS平行ビーム波長分散型X線検出器を採用しています。

TEAM™Tridentは、最も難しい材料特性評価の問題を解決します。 結晶情報と元素情報の両方を迅速かつ簡単に取得できるので、ユーザーはデータ収集ではなく、材料解析に集中することができます。

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