X線計測

  • SMX-BEN icon
    XLNCE SMX-BEN

    XLNCE SMX-BENは、非破壊で組成および膜厚を測定し、実質的にすべての物質を分析できる、ベンチトップ型のエネルギー分散型蛍光X線分析装置 (EDXRF) です。これは

    続きを読む
  • SMX-ILH icon
    XLNCE SMX-ILH

    XLNCE SMX-ILH XRFシステムは、硬質基板とフレキシブル基板の被膜組成のイン・ライン大気分析と、厚み測定向けの統合型のリモートモジュール構成を提供する、プロセス制御と収率測定用プラットフォームです。

    続きを読む