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EDAXのビデオ

EDAX最新情報 YouTube チャンネルで、現在の分析の課題を解決するために、エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) 、後方散乱電子回折 (EBSD)、波長分散型X線分析装置 (WDS)、または蛍光X線分析装置 (XRF)のマイクロアナリシスツールを使用した、興味深い材料特性評価アプリケーションに関する、EDAXのビデオをご覧ください。視聴可能なビデオの全リストは次の通りです。

  • エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) +

    • 3D EDS - 物質の真の構造を可視化
      3D EDS - 物質の真の構造を可視化

      Patrick Camus 博士と Travis Rampton博士 が、マイクロアナリシスの分析者に3D画像と詳細な定量分析結果の両方を抽出する機能を有する、最新のソフトウェアを用いた 技術について説明します。

      Patrick Camus 博士と Travis Rampton博士 が、マイクロアナリシスの分析者に3D画像と詳細な定量分析結果の両方を抽出する機能を有する、最新のソフトウェアを用いた 技術について説明します。

    • APEX™M&M 2016でのElementシリコンドリフト検出器 (SDD) 用分析ソフトウェア
      APEX™M&M 2016でのElementシリコンドリフト検出器 (SDD) 用分析ソフトウェア

      Tara Nylese氏による、M&M 2016でのElement EDS システムのための EDAX APEX™ ソフトウェアに関する説明

      Tara Nylese氏による、M&M 2016でのElement EDS システムのための EDAX APEX™ ソフトウェアに関する説明

    • ビームセンシティブ試料とEDS分析
      ビームセンシティブ試料とEDS分析

      このプレゼンテーションは、TESCANとのジョイントワークショップで、EDAXのEDSアプリケーションエンジニアのJens Rafaelsen博士により行われました。

      このプレゼンテーションは、TESCANとのジョイントワークショップで、EDAXのEDSアプリケーションエンジニアのJens Rafaelsen博士により行われました。

    • EDAX インスタント インサイト- Elementシリコンドリフト検出器
      EDAX インスタント インサイト- Elementシリコンドリフト検出器

      アプリケーションエンジニアのShawn Wallace氏が、EDAX のElementシリコンドリフト検出器の概要を説明します。

      アプリケーションエンジニアのShawn Wallace氏が、EDAX のElementシリコンドリフト検出器の概要を説明します。

    • EDSスペクトル分析とバックグラウンドモデリング
      EDSスペクトル分析とバックグラウンドモデリング

      EDSスペクトルにおける特性X線ピークは、一般的にあらゆるスペクトル分析において注目されますが、バックグラウンド信号と制動放射にもサンプルと分析条件に関する重要な情報が含まれます。さまざまなモデルとフィルターが、特性X線ピークからのバックグランド除去に使用されますが、それぞれに利点と欠点があります。オレゴン州ポートランドで開催されたM＆M 2019でのJens Rafaelsen博士によるこのプレゼンテーションでは、EDS信号の発生と検出の基礎について説明し、バックグラウンド信号へのさまざまなアプローチの利点と、それにより得られる情報について説明します。

      EDSスペクトルにおける特性X線ピークは、一般的にあらゆるスペクトル分析において注目されますが、バックグラウンド信号と制動放射にもサンプルと分析条件に関する重要な情報が含まれます。さまざまなモデルとフィルターが、特性X線ピークからのバックグランド除去に使用されますが、それぞれに利点と欠点があります。オレゴン州ポートランドで開催されたM＆M 2019でのJens Rafaelsen博士によるこのプレゼンテーションでは、EDS信号の発生と検出の基礎について説明し、バックグラウンド信号へのさまざまなアプローチの利点と、それにより得られる情報について説明します。

    • 低加速電圧EDS - リミットでのマッピング
      低加速電圧EDS - リミットでのマッピング

      Jens Rafaelsen博士による、M&M 2015の「ランチ&ラーン」セッションでのプレゼンテーション。

      Jens Rafaelsen博士による、M&M 2015の「ランチ&ラーン」セッションでのプレゼンテーション。

    • M&M 2016でのOctane Elite Plus、Super シリコンドリフト検出器 (SDD)
      M&M 2016でのOctane Elite Plus、Super シリコンドリフト検出器 (SDD)

      Microscopy & Microanalysis 2016で、Tara Nylese氏がOctane Elite Plus、Super シリコンドリフト検出器 (SDD) について説明します。

      Microscopy & Microanalysis 2016で、Tara Nylese氏がOctane Elite Plus、Super シリコンドリフト検出器 (SDD) について説明します。

    • 材料科学におけるEDSの実践的応用
      材料科学におけるEDSの実践的応用

      コネティカット大学のサーモフィッシャー サイエンティフィック 先端顕微鏡・材料分析センター (CAMMA) のマネージング・ディレクター、 Roger A. Ristau 博士が、エネルギー分散型X線分析装置を用いてさまざまな材料分析の課題をどのように解決できるか、その概要を紹介します。

      コネティカット大学のサーモフィッシャー サイエンティフィック 先端顕微鏡・材料分析センター (CAMMA) のマネージング・ディレクター、 Roger A. Ristau 博士が、エネルギー分散型X線分析装置を用いてさまざまな材料分析の課題をどのように解決できるか、その概要を紹介します。

    • スペクトル ライブラリ マッチング
      スペクトル ライブラリ マッチング

      EDAXのグローバルアプリケーションマネージャー、Tara Nylese氏がTEAM™の強力な新しい追加機能について説明します。Analysis ソフトウェアパッケージ。

      EDAXのグローバルアプリケーションマネージャー、Tara Nylese氏がTEAM™の強力な新しい追加機能について説明します。Analysis ソフトウェアパッケージ。

    • TEAM™3D 画像化と定量分析 (IQ) - Dr. Patrick Camus
      TEAM™3D 画像化と定量分析 (IQ) - Dr. Patrick Camus

      EDAXのPatrick Camus博士がTEAM™の使用により得られる柔軟性と能力を実演して見せます。EDSスライスデータを分析するための3D IQソフトウェア

      EDAXのPatrick Camus博士がTEAM™の使用により得られる柔軟性と能力を実演して見せます。EDSスライスデータを分析するための3D IQソフトウェア

    • TEAM™3D Imaging & Quant (IQ) - Tara Nylese
      TEAM™3D Imaging & Quant (IQ) - Tara Nylese

      Tara Nyleseがプレゼンテーションを行います。M&M 2015にて録画。TEAM™3D IQは、1つのソフトウェアパッケージでイメージングと分析操作の両方を実行することで、利用可能なEDSデータの最も包括的な視覚的・分析的理解を提供するEDSデータ用の3Dソリューションです。

      Tara Nyleseがプレゼンテーションを行います。M&M 2015にて録画。TEAM™3D IQは、1つのソフトウェアパッケージでイメージングと分析操作の両方を実行することで、利用可能なEDSデータの最も包括的な視覚的・分析的理解を提供するEDSデータ用の3Dソリューションです。

    • シリコンナイトライド製ウィンドウの材料特性
      シリコンナイトライド製ウィンドウの材料特性

      機械的および物理的酷使に耐えるよう、最新の EDS シリコンドリフト検出器に使用されている、シリコンナイトライド性ウィンドウの性能評価。

      機械的および物理的酷使に耐えるよう、最新の EDS シリコンドリフト検出器に使用されている、シリコンナイトライド性ウィンドウの性能評価。

  • 後方散乱電子回折 (EBSD) +

    • Dynamic EBSD Pattern Simulation
      Dynamic EBSD Pattern Simulation

      従来の運動学的回折を基にしたシミュレーションは、EBSDを前進させるのに役立ちましたが、パターン内のバンド強度を現実的に再現することは出来ませんでした。 近年、動力学的回折理論を使用して、EBSDパターンのシミュレーションを改善する大きな進展がありました。回折をより正確にシミュレートする機能は、いくつかの点でEBSD開発を促進するのに役立ちました。このプレゼンテーションでは、動力学的回折シミュレーションと、それに基づく3つのアプリケーション（Reflector optimization、Dictionary indexing、Background generation）について簡単に説明します。

      これは、M＆M 2019のLunch＆LearnセッションでStuart Wright博士が行ったプレゼンテーションのビデオです。

      従来の運動学的回折を基にしたシミュレーションは、EBSDを前進させるのに役立ちましたが、パターン内のバンド強度を現実的に再現することは出来ませんでした。 近年、動力学的回折理論を使用して、EBSDパターンのシミュレーションを改善する大きな進展がありました。回折をより正確にシミュレートする機能は、いくつかの点でEBSD開発を促進するのに役立ちました。このプレゼンテーションでは、動力学的回折シミュレーションと、それに基づく3つのアプリケーション（Reflector optimization、Dictionary indexing、Background generation）について簡単に説明します。

      これは、M＆M 2019のLunch＆LearnセッションでStuart Wright博士が行ったプレゼンテーションのビデオです。

    • EDAX インスタント インサイト - Atom Probe Assist
      EDAX インスタント インサイト - Atom Probe Assist

      EBSD プロダクトマネージャーのMatt Nowell氏によるEDAX Atom Probe Assist ソフトウェアモジュールの簡単な紹介。

      EBSD プロダクトマネージャーのMatt Nowell氏によるEDAX Atom Probe Assist ソフトウェアモジュールの簡単な紹介。

    • EDAX インスタント インサイト - EDAXのHikari EBSD カメラ
      EDAX インスタント インサイト - EDAXのHikari EBSD カメラ

      Hikari EBSD カメラのEDAX インスタント インサイト - EDAX による、約2分間の製品概要新シリーズ弟1号

      Hikari EBSD カメラのEDAX インスタント インサイト - EDAX による、約2分間の製品概要新シリーズ弟1号

    • EDAXインスタント インサイト- NPAR™
      EDAXインスタント インサイト- NPAR™

      EBSD 製品マネージャーの Matt Nowell 氏が、Neighbor Pattern Averaging/Reindexing (NPAR™) ソフトウェアについて手短に説明します。

      EBSD 製品マネージャーの Matt Nowell 氏が、Neighbor Pattern Averaging/Reindexing (NPAR™) ソフトウェアについて手短に説明します。

    • EDAXインスタント インサイト - PRIAS™
      EDAXインスタント インサイト - PRIAS™

      EBSD 製品マネージャーの Matt Nowell 氏が、Pattern Region of Interest Analysis System (PRIAS™) ソフトウェアについて手短に説明します。

      EBSD 製品マネージャーの Matt Nowell 氏が、Pattern Region of Interest Analysis System (PRIAS™) ソフトウェアについて手短に説明します。

    • EDAX Instant Insight – VelocityTM EBSD Camera Series
      EDAX Instant Insight – VelocityTM EBSD Camera Series

      EDAX EBSDプロダクトマネージャーMatt Nowellは、新しいVelocityTM EBSD検出器について説明します。これは、実サンプルで最高のインデックス精度で最速のマッピングを実現します。CMOSセンサーを搭載したVelocityTMは、高速、高感度、低ノイズを兼ね備えています。

      EDAX EBSDプロダクトマネージャーMatt Nowellは、新しいVelocityTM EBSD検出器について説明します。これは、実サンプルで最高のインデックス精度で最速のマッピングを実現します。CMOSセンサーを搭載したVelocityTMは、高速、高感度、低ノイズを兼ね備えています。

    • NPAR™デモビデオ
      NPAR™デモビデオ

      EBSDプロダクトマネージャーのMatt Nowell氏が、「Neighbor Pattern Averaging and Reindexing」(NPAR™) の手短なソフトウェアデモンストレーションを行います。

      EBSDプロダクトマネージャーのMatt Nowell氏が、「Neighbor Pattern Averaging and Reindexing」(NPAR™) の手短なソフトウェアデモンストレーションを行います。

    • OIM Analysis™ v8 - 新機能、これを使って何ができるか、材料特性評価をどのように改良できるか。
      OIM Analysis™ v8 - 新機能、これを使って何ができるか、材料特性評価をどのように改良できるか。

      v8 の発売により、OIM Analysis™ に重要な新しい機能が導入されました。このビデオでは、OIM Analysis™の基本機能に関する説明の他、マルチスレッディング最適化、EBSDパターンの再指数付け、ChI-Scan™、NPAR™、Anti-Grain 分析と相関プロットなど、v8の新機能の概要を紹介します。

      v8 の発売により、OIM Analysis™ に重要な新しい機能が導入されました。このビデオでは、OIM Analysis™の基本機能に関する説明の他、マルチスレッディング最適化、EBSDパターンの再指数付け、ChI-Scan™、NPAR™、Anti-Grain 分析と相関プロットなど、v8の新機能の概要を紹介します。

    • Pattern Region of Interest Analysis System (PRIAS™)
      Pattern Region of Interest Analysis System (PRIAS™)

      M&M 2014 からのこのプレゼンテーションでは、Matt Nowell 氏が PRIAS™ 画像化によって得られる分析と画像化の機会について簡単に説明します。

      M&M 2014 からのこのプレゼンテーションでは、Matt Nowell 氏が PRIAS™ 画像化によって得られる分析と画像化の機会について簡単に説明します。

    • EBSD 微細構造特性評価に関する最近の進歩とイノベーション
      EBSD 微細構造特性評価に関する最近の進歩とイノベーション

      EBSDプロダクトマネージャーのMatt Nowell氏が、EBSD分析ツールの最近の進歩について説明します: Hikari カメラ、PRIAS™ イメージングとOIM 機能。 2014年のヴィースバーデン EDAX EBSD ユーザーワークショップにて録画。

      EBSDプロダクトマネージャーのMatt Nowell氏が、EBSD分析ツールの最近の進歩について説明します: Hikari カメラ、PRIAS™ イメージングとOIM 機能。 2014年のヴィースバーデン EDAX EBSD ユーザーワークショップにて録画。

    • TEM
      TEM

      このプレゼンテーションは、最初M&M 2015にて、Rene de Kloe博士により行われました。

      このプレゼンテーションは、最初M&M 2015にて、Rene de Kloe博士により行われました。

    • The Evolution and Revolution in EBSD Pattern Detection
      The Evolution and Revolution in EBSD Pattern Detection

      EDAX EBSDプロダクトマネージャーのMatt NowellとアプリケーションスペシャリストのRene de Kloe博士によるM＆M 2019のランチョンセミナー（Lunch＆Learn）でのプレゼンテーションです。EBSD分析の歴史、現在の状況から、CMOSおよびDeD検出器に焦点を当てて将来の開発について紹介します。

      EDAX EBSDプロダクトマネージャーのMatt NowellとアプリケーションスペシャリストのRene de Kloe博士によるM＆M 2019のランチョンセミナー（Lunch＆Learn）でのプレゼンテーションです。EBSD分析の歴史、現在の状況から、CMOSおよびDeD検出器に焦点を当てて将来の開発について紹介します。

    • 透過-EBSD - 第1部
      透過-EBSD - 第1部

      第1部:高分解能 EBSD、透過 EBSD 入門、アプリケーション。2014年度のEBSDワークショップにて録画。

      第1部:高分解能 EBSD、透過 EBSD 入門、アプリケーション。2014年度のEBSDワークショップにて録画。

    • 透過-EBSD - 第2部
      透過-EBSD - 第2部

      第2部:広範囲の透過-EBSD2014年度のEBSDワークショップにて録画

      第2部:広範囲の透過-EBSD2014年度のEBSDワークショップにて録画

  • 波長分散型X線分析装置 (WDS) +

    • WDSのTEAM™への統合
      WDSのTEAM™への統合

      EDAX TEAM™に含まれるスマート機能の概要欧州アプリケーションマネージャーのMichaela Schleifer氏によるWDS 分析システムの解説。2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。

      EDAX TEAM™に含まれるスマート機能の概要欧州アプリケーションマネージャーのMichaela Schleifer氏によるWDS 分析システムの解説。2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。

    • 光学系 - WDS分光器の重要な部分
      光学系 - WDS分光器の重要な部分

      2013年11月のEDAX TEAM™ WDSワークショップにおける、Procop博士 (ベルリンのInstitute for Scientific Instruments) によるプレゼンテーション

      2013年11月のEDAX TEAM™ WDSワークショップにおける、Procop博士 (ベルリンのInstitute for Scientific Instruments) によるプレゼンテーション

    • 航空機テクノロジーにおける WDS アプリケーション
      航空機テクノロジーにおける WDS アプリケーション

      NLRのTim Hattenberg氏による、2013年11月のヴィースバーデン2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。

      NLRのTim Hattenberg氏による、2013年11月のヴィースバーデン2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。

    • ガラス化学におけるWDS
      ガラス化学におけるWDS

      元イェナ大学教授のGünter Völksch 博士による、ガラスの分析におけるWDSの使用に関するプレゼンテーション。2013年11月のヴィースバーデン TEAM™ WDSワークショップにて。

      元イェナ大学教授のGünter Völksch 博士による、ガラスの分析におけるWDSの使用に関するプレゼンテーション。2013年11月のヴィースバーデン TEAM™ WDSワークショップにて。

    • WDS - EDSが限界に到達！
      WDS - EDSが限界に到達！

      EDAXヨーロッパのアプリケーションマネージャー、Michaela Schleifer氏による2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。

      EDAXヨーロッパのアプリケーションマネージャー、Michaela Schleifer氏による2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。

  • インテグレーションテクノロジー +

    • EDSとマイクロ-XRFを相関させる
      EDSとマイクロ-XRFを相関させる

      M&M 2014でのこのプレゼンテーションは、EDSとマイクロ-XRFの相対的な利点に注目し、最適な材料特性評価のために、2つの技術を併用する方法を提案します。

      M&M 2014でのこのプレゼンテーションは、EDSとマイクロ-XRFの相対的な利点に注目し、最適な材料特性評価のために、2つの技術を併用する方法を提案します。

    • EDAXインスタント インサイト - EDAX TEAM™による相マッピングソフトウェア
      EDAXインスタント インサイト - EDAX TEAM™による相マッピングソフトウェア

      EDAXインスタント インサイト - TEAM™による相マッピングソフトウェア。この新しいおよそ2分間のビデオのシリーズは、特定のEDAX製品の概要を紹介します。

      EDAXインスタント インサイト - TEAM™による相マッピングソフトウェア。この新しいおよそ2分間のビデオのシリーズは、特定のEDAX製品の概要を紹介します。

    • インテグレーション型マイクロアナリシスのフロンティア
      インテグレーション型マイクロアナリシスのフロンティア

      EDAX グローバルアプリケーションマネージャーの Tara Nylese 氏が、スタンドアローン型およびインテグレーション型材料分析ツールの両方として、EDS、EBSD、およびWDS技術の概要を紹介し、材料特性評価の最新の進歩を披露します。

      EDAX グローバルアプリケーションマネージャーの Tara Nylese 氏が、スタンドアローン型およびインテグレーション型材料分析ツールの両方として、EDS、EBSD、およびWDS技術の概要を紹介し、材料特性評価の最新の進歩を披露します。

    • 急いで作業を完了させる必要がありますか？EDSとEBSDで高品質な高速データ収集を行う方法 - M&M 2016 「ランチ&ラーン」セッション
      急いで作業を完了させる必要がありますか？EDSとEBSDで高品質な高速データ収集を行う方法 - M&M 2016 「ランチ&ラーン」セッション

      このM&M 2016でのプレゼンテーションでは、グローバルアプリケーションマネージャーの Tara Nylese 氏と、アプリケーション専門家のShawn Wallace 氏が、EDS とEBSD によって高品質かつ高速度のデータ収集を可能にする、最新のハードウェアとソフトウェアの概要を紹介します。

      このM&M 2016でのプレゼンテーションでは、グローバルアプリケーションマネージャーの Tara Nylese 氏と、アプリケーション専門家のShawn Wallace 氏が、EDS とEBSD によって高品質かつ高速度のデータ収集を可能にする、最新のハードウェアとソフトウェアの概要を紹介します。

    • WDSとEDSの相乗作用
      WDSとEDSの相乗作用

      EDAXの主任製品開発エンジニア、Patrick Camus博士による、2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。

      EDAXの主任製品開発エンジニア、Patrick Camus博士による、2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。

    • Tara Nylese - M&M 2015 でのEDAX
      Tara Nylese - M&M 2015 でのEDAX

      Tara Nylese氏が最近発売された EDAX の Octane Elite 検出器を紹介します

      Tara Nylese氏が最近発売された EDAX の Octane Elite 検出器を紹介します

    • TEAM™分析システム
      TEAM™分析システム

      EDAX TEAM™の概要TEAM™の元グローバルマーケティングマネージャーのMike Coy氏による「完全な材料特性評価のための分析システム」の紹介2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。

      EDAX TEAM™の概要TEAM™の元グローバルマーケティングマネージャーのMike Coy氏による「完全な材料特性評価のための分析システム」の紹介2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。

    • EDAXにようこそ！
      EDAXにようこそ！

      こちらはマイクロアナリシス技術とそれに関連するEDAX製品の概要ビデオです。

      こちらはマイクロアナリシス技術とそれに関連するEDAX製品の概要ビデオです。

  • 蛍光X線分析装置 (XRF) +

    • EDAX インスタント インサイト - XLNCE SMX-BEN
      EDAX インスタント インサイト - XLNCE SMX-BEN

      XLNCE SMX-BEN XRF 分析器への EDAX インスタント インサイト。この新しい2分間のビデオのシリーズは、特定のEDAX製品の概要を紹介します。

      XLNCE SMX-BEN XRF 分析器への EDAX インスタント インサイト。この新しい2分間のビデオのシリーズは、特定のEDAX製品の概要を紹介します。

    • EDAX インスタント インサイト - XLNCE SMX XRF 分析器
      EDAX インスタント インサイト - XLNCE SMX XRF 分析器

      XLNCE SMX XRF シリーズの EDAX インスタント インサイト - ショートビデオによる SMX-ILH および SMX-BEN 分析器の概要

      XLNCE SMX XRF シリーズの EDAX インスタント インサイト - ショートビデオによる SMX-ILH および SMX-BEN 分析器の概要

    • XLNCE SMX-BEN XRF 分析器
      XLNCE SMX-BEN XRF 分析器

      XLNCE SMX-BENは、プロセス開発、プロセス制御および品質保証のための非破壊的な膜厚測定と組成測定を提供する、ベンチトップ型のエネルギー分散型蛍光X線分析器 (EDXRF) です。このビデオでは、プロダクトマネージャーのSia Afshari氏が、分析器の概要を説明します。

      XLNCE SMX-BENは、プロセス開発、プロセス制御および品質保証のための非破壊的な膜厚測定と組成測定を提供する、ベンチトップ型のエネルギー分散型蛍光X線分析器 (EDXRF) です。このビデオでは、プロダクトマネージャーのSia Afshari氏が、分析器の概要を説明します。