参考資料

EDAXのビデオ

EDAX最新情報 YouTube チャンネルで、現在の分析の課題を解決するために、エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) 、後方散乱電子回折 (EBSD)、波長分散型X線分析装置 (WDS)、または蛍光X線分析装置 (XRF)のマイクロアナリシスツールを使用した、興味深い材料特性評価アプリケーションに関する、EDAXのビデオをご覧ください。視聴可能なビデオの全リストは次の通りです。

エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) +
- {2}
  
  {3}
- 3D EDS - 物質の真の構造を可視化
  
  3D EDS - 物質の真の構造を可視化
  
  Patrick Camus 博士と Travis Rampton博士が、マイクロアナリシスの分析者に3D画像と詳細な定量分析結果の両方を抽出する機能を有する、最新のソフトウェアを用いた技術について説明します。
  
  Patrick Camus 博士と Travis Rampton博士が、マイクロアナリシスの分析者に3D画像と詳細な定量分析結果の両方を抽出する機能を有する、最新のソフトウェアを用いた技術について説明します。
- APEX™M&M 2016でのElementシリコンドリフト検出器 (SDD) 用分析ソフトウェア
  
  APEX™M&M 2016でのElementシリコンドリフト検出器 (SDD) 用分析ソフトウェア
  
  Tara Nylese氏による、M&M 2016でのElement EDS システムのための EDAX APEX™ ソフトウェアに関する説明
  
  Tara Nylese氏による、M&M 2016でのElement EDS システムのための EDAX APEX™ ソフトウェアに関する説明
- ビームセンシティブ試料とEDS分析
  
  ビームセンシティブ試料とEDS分析
  
  このプレゼンテーションは、TESCANとのジョイントワークショップで、EDAXのEDSアプリケーションエンジニアのJens Rafaelsen博士により行われました。
  
  このプレゼンテーションは、TESCANとのジョイントワークショップで、EDAXのEDSアプリケーションエンジニアのJens Rafaelsen博士により行われました。
- EDAX インスタントインサイト- Elementシリコンドリフト検出器
  
  EDAX インスタントインサイト- Elementシリコンドリフト検出器
  
  アプリケーションエンジニアのShawn Wallace氏が、EDAX のElementシリコンドリフト検出器の概要を説明します。
  
  アプリケーションエンジニアのShawn Wallace氏が、EDAX のElementシリコンドリフト検出器の概要を説明します。
- 低加速電圧EDS - リミットでのマッピング
  
  低加速電圧EDS - リミットでのマッピング
  
  Jens Rafaelsen博士による、M&M 2015の「ランチ&ラーン」セッションでのプレゼンテーション。
  
  Jens Rafaelsen博士による、M&M 2015の「ランチ&ラーン」セッションでのプレゼンテーション。
- M&M 2016でのOctane Elite Plus、Super シリコンドリフト検出器 (SDD)
  
  M&M 2016でのOctane Elite Plus、Super シリコンドリフト検出器 (SDD)
  
  Microscopy & Microanalysis 2016で、Tara Nylese氏がOctane Elite Plus、Super シリコンドリフト検出器 (SDD) について説明します。
  
  Microscopy & Microanalysis 2016で、Tara Nylese氏がOctane Elite Plus、Super シリコンドリフト検出器 (SDD) について説明します。
- 材料科学におけるEDSの実践的応用
  
  材料科学におけるEDSの実践的応用
  
  コネティカット大学のサーモフィッシャーサイエンティフィック先端顕微鏡・材料分析センター (CAMMA) のマネージング・ディレクター、 Roger A. Ristau 博士が、エネルギー分散型X線分析装置を用いてさまざまな材料分析の課題をどのように解決できるか、その概要を紹介します。
  
  コネティカット大学のサーモフィッシャーサイエンティフィック先端顕微鏡・材料分析センター (CAMMA) のマネージング・ディレクター、 Roger A. Ristau 博士が、エネルギー分散型X線分析装置を用いてさまざまな材料分析の課題をどのように解決できるか、その概要を紹介します。
- スペクトルライブラリマッチング
  
  スペクトルライブラリマッチング
  
  EDAXのグローバルアプリケーションマネージャー、Tara Nylese氏がTEAM™の強力な新しい追加機能について説明します。Analysis ソフトウェアパッケージ。
  
  EDAXのグローバルアプリケーションマネージャー、Tara Nylese氏がTEAM™の強力な新しい追加機能について説明します。Analysis ソフトウェアパッケージ。
- TEAM™3D 画像化と定量分析 (IQ) - Dr. Patrick Camus
  
  TEAM™3D 画像化と定量分析 (IQ) - Dr. Patrick Camus
  
  EDAXのPatrick Camus博士がTEAM™の使用により得られる柔軟性と能力を実演して見せます。EDSスライスデータを分析するための3D IQソフトウェア
  
  EDAXのPatrick Camus博士がTEAM™の使用により得られる柔軟性と能力を実演して見せます。EDSスライスデータを分析するための3D IQソフトウェア
- TEAM™3D Imaging & Quant (IQ) - Tara Nylese
  
  TEAM™3D Imaging & Quant (IQ) - Tara Nylese
  
  Tara Nyleseがプレゼンテーションを行います。M&M 2015にて録画。TEAM™3D IQは、1つのソフトウェアパッケージでイメージングと分析操作の両方を実行することで、利用可能なEDSデータの最も包括的な視覚的・分析的理解を提供するEDSデータ用の3Dソリューションです。
  
  Tara Nyleseがプレゼンテーションを行います。M&M 2015にて録画。TEAM™3D IQは、1つのソフトウェアパッケージでイメージングと分析操作の両方を実行することで、利用可能なEDSデータの最も包括的な視覚的・分析的理解を提供するEDSデータ用の3Dソリューションです。
- シリコンナイトライド製ウィンドウの材料特性
  
  シリコンナイトライド製ウィンドウの材料特性
  
  機械的および物理的酷使に耐えるよう、最新の EDS シリコンドリフト検出器に使用されている、シリコンナイトライド性ウィンドウの性能評価。
  
  機械的および物理的酷使に耐えるよう、最新の EDS シリコンドリフト検出器に使用されている、シリコンナイトライド性ウィンドウの性能評価。

後方散乱電子回折 (EBSD) +
- {2}
  
  {3}
- EDAX インスタントインサイト - Atom Probe Assist
  
  EDAX インスタントインサイト - Atom Probe Assist
  
  EBSD プロダクトマネージャーのMatt Nowell氏によるEDAX Atom Probe Assist ソフトウェアモジュールの簡単な紹介。
  
  EBSD プロダクトマネージャーのMatt Nowell氏によるEDAX Atom Probe Assist ソフトウェアモジュールの簡単な紹介。
- EDAX インスタントインサイト - EDAXのHikari EBSD カメラ
  
  EDAX インスタントインサイト - EDAXのHikari EBSD カメラ
  
  Hikari EBSD カメラのEDAX インスタントインサイト - EDAX による、約2分間の製品概要新シリーズ弟1号
  
  Hikari EBSD カメラのEDAX インスタントインサイト - EDAX による、約2分間の製品概要新シリーズ弟1号
- EDAXインスタントインサイト- NPAR™
  
  EDAXインスタントインサイト- NPAR™
  
  EBSD 製品マネージャーの Matt Nowell 氏が、Neighbor Pattern Averaging/Reindexing (NPAR™) ソフトウェアについて手短に説明します。
  
  EBSD 製品マネージャーの Matt Nowell 氏が、Neighbor Pattern Averaging/Reindexing (NPAR™) ソフトウェアについて手短に説明します。
- EDAXインスタントインサイト - PRIAS™
  
  EDAXインスタントインサイト - PRIAS™
  
  EBSD 製品マネージャーの Matt Nowell 氏が、Pattern Region of Interest Analysis System (PRIAS™) ソフトウェアについて手短に説明します。
  
  EBSD 製品マネージャーの Matt Nowell 氏が、Pattern Region of Interest Analysis System (PRIAS™) ソフトウェアについて手短に説明します。
- NPAR™デモビデオ
  
  NPAR™デモビデオ
  
  EBSDプロダクトマネージャーのMatt Nowell氏が、「Neighbor Pattern Averaging and Reindexing」(NPAR™) の手短なソフトウェアデモンストレーションを行います。
  
  EBSDプロダクトマネージャーのMatt Nowell氏が、「Neighbor Pattern Averaging and Reindexing」(NPAR™) の手短なソフトウェアデモンストレーションを行います。
- OIM Analysis™ v8 - 新機能、これを使って何ができるか、材料特性評価をどのように改良できるか。
  
  OIM Analysis™ v8 - 新機能、これを使って何ができるか、材料特性評価をどのように改良できるか。
  
  v8 の発売により、OIM Analysis™ に重要な新しい機能が導入されました。このビデオでは、OIM Analysis™の基本機能に関する説明の他、マルチスレッディング最適化、EBSDパターンの再指数付け、ChI-Scan™、NPAR™、Anti-Grain 分析と相関プロットなど、v8の新機能の概要を紹介します。
  
  v8 の発売により、OIM Analysis™ に重要な新しい機能が導入されました。このビデオでは、OIM Analysis™の基本機能に関する説明の他、マルチスレッディング最適化、EBSDパターンの再指数付け、ChI-Scan™、NPAR™、Anti-Grain 分析と相関プロットなど、v8の新機能の概要を紹介します。
- Pattern Region of Interest Analysis System (PRIAS™)
  
  Pattern Region of Interest Analysis System (PRIAS™)
  
  M&M 2014 からのこのプレゼンテーションでは、Matt Nowell 氏が PRIAS™ 画像化によって得られる分析と画像化の機会について簡単に説明します。
  
  M&M 2014 からのこのプレゼンテーションでは、Matt Nowell 氏が PRIAS™ 画像化によって得られる分析と画像化の機会について簡単に説明します。
- EBSD 微細構造特性評価に関する最近の進歩とイノベーション
  
  EBSD 微細構造特性評価に関する最近の進歩とイノベーション
  
  EBSDプロダクトマネージャーのMatt Nowell氏が、EBSD分析ツールの最近の進歩について説明します: Hikari カメラ、PRIAS™ イメージングとOIM 機能。 2014年のヴィースバーデン EDAX EBSD ユーザーワークショップにて録画。
  
  EBSDプロダクトマネージャーのMatt Nowell氏が、EBSD分析ツールの最近の進歩について説明します: Hikari カメラ、PRIAS™ イメージングとOIM 機能。 2014年のヴィースバーデン EDAX EBSD ユーザーワークショップにて録画。
- TEM
  
  TEM
  
  このプレゼンテーションは、最初M&M 2015にて、Rene de Kloe博士により行われました。
  
  このプレゼンテーションは、最初M&M 2015にて、Rene de Kloe博士により行われました。
- 透過-EBSD - 第1部
  
  透過-EBSD - 第1部
  
  第1部:高分解能 EBSD、透過 EBSD 入門、アプリケーション。2014年度のEBSDワークショップにて録画。
  
  第1部:高分解能 EBSD、透過 EBSD 入門、アプリケーション。2014年度のEBSDワークショップにて録画。
- 透過-EBSD - 第2部
  
  透過-EBSD - 第2部
  
  第2部:広範囲の透過-EBSD2014年度のEBSDワークショップにて録画
  
  第2部:広範囲の透過-EBSD2014年度のEBSDワークショップにて録画

波長分散型X線分析装置 (WDS) +
- {2}
  
  {3}
- WDSのTEAM™への統合
  
  WDSのTEAM™への統合
  
  EDAX TEAM™に含まれるスマート機能の概要欧州アプリケーションマネージャーのMichaela Schleifer氏によるWDS 分析システムの解説。2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。
  
  EDAX TEAM™に含まれるスマート機能の概要欧州アプリケーションマネージャーのMichaela Schleifer氏によるWDS 分析システムの解説。2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。
- 光学系 - WDS分光器の重要な部分
  
  光学系 - WDS分光器の重要な部分
  
  2013年11月のEDAX TEAM™ WDSワークショップにおける、Procop博士 (ベルリンのInstitute for Scientific Instruments) によるプレゼンテーション
  
  2013年11月のEDAX TEAM™ WDSワークショップにおける、Procop博士 (ベルリンのInstitute for Scientific Instruments) によるプレゼンテーション
- 航空機テクノロジーにおける WDS アプリケーション
  
  航空機テクノロジーにおける WDS アプリケーション
  
  NLRのTim Hattenberg氏による、2013年11月のヴィースバーデン2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。
  
  NLRのTim Hattenberg氏による、2013年11月のヴィースバーデン2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。
- ガラス化学におけるWDS
  
  ガラス化学におけるWDS
  
  元イェナ大学教授のGünter Völksch 博士による、ガラスの分析におけるWDSの使用に関するプレゼンテーション。2013年11月のヴィースバーデン TEAM™ WDSワークショップにて。
  
  元イェナ大学教授のGünter Völksch 博士による、ガラスの分析におけるWDSの使用に関するプレゼンテーション。2013年11月のヴィースバーデン TEAM™ WDSワークショップにて。
- WDS - EDSが限界に到達！
  
  WDS - EDSが限界に到達！
  
  EDAXヨーロッパのアプリケーションマネージャー、Michaela Schleifer氏による2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。
  
  EDAXヨーロッパのアプリケーションマネージャー、Michaela Schleifer氏による2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。

インテグレーションテクノロジー +
- {2}
  
  {3}
- EDSとマイクロ-XRFを相関させる
  
  EDSとマイクロ-XRFを相関させる
  
  M&M 2014でのこのプレゼンテーションは、EDSとマイクロ-XRFの相対的な利点に注目し、最適な材料特性評価のために、2つの技術を併用する方法を提案します。
  
  M&M 2014でのこのプレゼンテーションは、EDSとマイクロ-XRFの相対的な利点に注目し、最適な材料特性評価のために、2つの技術を併用する方法を提案します。
- EDAXインスタントインサイト - EDAX TEAM™による相マッピングソフトウェア
  
  EDAXインスタントインサイト - EDAX TEAM™による相マッピングソフトウェア
  
  EDAXインスタントインサイト - TEAM™による相マッピングソフトウェア。この新しいおよそ2分間のビデオのシリーズは、特定のEDAX製品の概要を紹介します。
  
  EDAXインスタントインサイト - TEAM™による相マッピングソフトウェア。この新しいおよそ2分間のビデオのシリーズは、特定のEDAX製品の概要を紹介します。
- インテグレーション型マイクロアナリシスのフロンティア
  
  インテグレーション型マイクロアナリシスのフロンティア
  
  EDAX グローバルアプリケーションマネージャーの Tara Nylese 氏が、スタンドアローン型およびインテグレーション型材料分析ツールの両方として、EDS、EBSD、およびWDS技術の概要を紹介し、材料特性評価の最新の進歩を披露します。
  
  EDAX グローバルアプリケーションマネージャーの Tara Nylese 氏が、スタンドアローン型およびインテグレーション型材料分析ツールの両方として、EDS、EBSD、およびWDS技術の概要を紹介し、材料特性評価の最新の進歩を披露します。
- 急いで作業を完了させる必要がありますか？EDSとEBSDで高品質な高速データ収集を行う方法 - M&M 2016 「ランチ&ラーン」セッション
  
  急いで作業を完了させる必要がありますか？EDSとEBSDで高品質な高速データ収集を行う方法 - M&M 2016 「ランチ&ラーン」セッション
  
  このM&M 2016でのプレゼンテーションでは、グローバルアプリケーションマネージャーの Tara Nylese 氏と、アプリケーション専門家のShawn Wallace 氏が、EDS とEBSD によって高品質かつ高速度のデータ収集を可能にする、最新のハードウェアとソフトウェアの概要を紹介します。
  
  このM&M 2016でのプレゼンテーションでは、グローバルアプリケーションマネージャーの Tara Nylese 氏と、アプリケーション専門家のShawn Wallace 氏が、EDS とEBSD によって高品質かつ高速度のデータ収集を可能にする、最新のハードウェアとソフトウェアの概要を紹介します。
- WDSとEDSの相乗作用
  
  WDSとEDSの相乗作用
  
  EDAXの主任製品開発エンジニア、Patrick Camus博士による、2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。
  
  EDAXの主任製品開発エンジニア、Patrick Camus博士による、2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。
- Tara Nylese - M&M 2015 でのEDAX
  
  Tara Nylese - M&M 2015 でのEDAX
  
  Tara Nylese氏が最近発売された EDAX の Octane Elite 検出器を紹介します
  
  Tara Nylese氏が最近発売された EDAX の Octane Elite 検出器を紹介します
- TEAM™分析システム
  
  TEAM™分析システム
  
  EDAX TEAM™の概要TEAM™の元グローバルマーケティングマネージャーのMike Coy氏による「完全な材料特性評価のための分析システム」の紹介2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。
  
  EDAX TEAM™の概要TEAM™の元グローバルマーケティングマネージャーのMike Coy氏による「完全な材料特性評価のための分析システム」の紹介2013年11月のヴィースバーデンでのWDSワークショップ。
- EDAXにようこそ！
  
  EDAXにようこそ！
  
  こちらはマイクロアナリシス技術とそれに関連するEDAX製品の概要ビデオです。
  
  こちらはマイクロアナリシス技術とそれに関連するEDAX製品の概要ビデオです。

蛍光X線分析装置 (XRF) +
- {2}
  
  {3}
- EDAX インスタントインサイト - XLNCE SMX-BEN
  
  EDAX インスタントインサイト - XLNCE SMX-BEN
  
  XLNCE SMX-BEN XRF 分析器への EDAX インスタントインサイト。この新しい2分間のビデオのシリーズは、特定のEDAX製品の概要を紹介します。
  
  XLNCE SMX-BEN XRF 分析器への EDAX インスタントインサイト。この新しい2分間のビデオのシリーズは、特定のEDAX製品の概要を紹介します。
- EDAX インスタントインサイト - XLNCE SMX XRF 分析器
  
  EDAX インスタントインサイト - XLNCE SMX XRF 分析器
  
  XLNCE SMX XRF シリーズの EDAX インスタントインサイト - ショートビデオによる SMX-ILH および SMX-BEN 分析器の概要
  
  XLNCE SMX XRF シリーズの EDAX インスタントインサイト - ショートビデオによる SMX-ILH および SMX-BEN 分析器の概要
- XLNCE SMX-BEN XRF 分析器
  
  XLNCE SMX-BEN XRF 分析器
  
  XLNCE SMX-BENは、プロセス開発、プロセス制御および品質保証のための非破壊的な膜厚測定と組成測定を提供する、ベンチトップ型のエネルギー分散型蛍光X線分析器 (EDXRF) です。このビデオでは、プロダクトマネージャーのSia Afshari氏が、分析器の概要を説明します。
  
  XLNCE SMX-BENは、プロセス開発、プロセス制御および品質保証のための非破壊的な膜厚測定と組成測定を提供する、ベンチトップ型のエネルギー分散型蛍光X線分析器 (EDXRF) です。このビデオでは、プロダクトマネージャーのSia Afshari氏が、分析器の概要を説明します。