特長
- カスタムX線ウィンドウテクノロジーにより、軽元素の検出が可能
- 独自の同軸光とX線光学系により、特定の領域を正確にターゲットにし、隣接領域からのX線干渉を排除
- スペクトル収集を2.5倍、スペクトルマップ速度を3倍以上高速化することで、スループットを最大化
- プログラム可能な自動実行ルーチンによりワークフローを合理化し、生産性を向上させ、一貫した高品質な結果を実現
Orbis IIの心臓部は特許取得済みのOrbital turretで、X線光軸を試料の高倍率像とシームレスに調整する精密ポジショナーを搭載しました。2 mmφから30 μmφの範囲で切り替え可能なスポットサイズと組み合わせることで、この高度なシステムにより、X線は常に必要な場所に正確に焦点を合わせることができ、CCD像のずれや試料の高さのばらつきによる誤差を排除できます。実績のあるOrbisプラットフォームを基盤とするOrbis IIは、これまでと同じ信頼性の高い性能と信頼性を提供しながら、さらに優れた精度と制御性を備え、絶対的な自信を持って分析を行うことができます。
Orbis IIは、マイクロXRF分析の速度と効率性を再定義します。高強度X線源、改良されたエレクトロニクス、そして大面積のX線検出器を搭載し、試料から毎秒100万カウント以上のデータを取得し、毎秒45万カウント以上のデータ処理を実現。これにより、前世代機の2.5倍以上の速度でスペクトル収集が可能になります。
強化されたステージマッピングと最適化されたステージコントロールにより、ステージ移動時間が3～4分の1に短縮され、より高速で効率的なスキャンが可能になります。これらの進歩により、より短時間で高品質なデータが得られるため、1日に分析できる試料数が増え、ラボの生産性を最大限に高めることができます。
図 1. Orbis IIは特許取得済みのOrbital turretを採用し、X線光軸を試料の高倍率像とシームレスに調整します。
Orbis II Plusは、特許取得済みのシリコンナイトライドウィンドウを採用した30 mm2のX線検出器を搭載しています。最大250,000カウント/秒（cps）のスループットを実現します。Orbis II Superは、ベリリウムウィンドウを採用した70 mm2のX線検出器を標準装備し、最大450,000 cpsのスループットを実現します。Orbis II Superには、分析ニーズに合わせてシリコンナイトライドウィンドウへ変更するオプションも用意されています。
システムを補完する Orbis Vision II は、速度、シンプルさ、精度を重視して設計された次世代ソフトウェア プラットフォームです。合理化されたインターフェースとモダンで直感的なデザインにより、ユーザーは少ないクリック数でイメージング、定性分析、マッピング、定量分析、レポート作成など、あらゆる操作を効率よく実行できます。
厳格なユーザーテストと実際のフィードバックに基づいて開発されたOrbis Vision IIは、よりスマートで応答性に優れたエクスペリエンスを提供し、セットアップから結果に至るまでの時間をこれまで以上に短縮します。
図 2. 15 mm x 15 mmの床タイル材を、管電圧50 kV・管電流1,000 µAで測定しました。30 µmφのポリキャピラリー光学系により、15 µmのステップサイズと200 msのピクセル時間で高解像度のマッピングが可能になりました。
図 3. EDAX Orbis IIの2種類のウィンドウオプションの透過率曲線を示すグラフ。ベリリウムウィンドウ（赤）は高いX線エネルギーで高い透過率を示し、シリコンナイトライドウィンドウ（緑）は低いX線エネルギーで優れた性能を示します。
追加資料
入門パンフレット