歴史

EDAXは、エネルギー分散型X線分析装置(EDS)、後方散乱電子回折(EBSD)、波長分散型X線分析装置(WDS)および蛍光X線分析装置(XRF)の世界的リーダーです。 EDAXは、半導体、金属、地質学、生物学、材料およびセラミックス分野のリーディングカンパニーのための高品質な製品とシステムを製造、販売、サービスしています。

1962年の設立以来、EDAXは、研究、開発、産業ニーズへソリューションを提供する、超高感度シリコン放射線センサー、デジタルエレクトロニクス、特殊アプリケーションソフトウェアを開発するための知識と経験を活かしてきました

EDAXはAMETEK材料分析事業部の一部門です。 AMETEK、Inc.は、年間売上高40億ドルを超えるエレクトロニクス機器および電気機械機器の世界的なリーディングカンパニーです

技術的リーダーシップを維持するための、ランドマーク的なイベントは以下の通りです:
  • 2010年代 +


    2017年

    Element EDSシステム用のAPEX™ 1.1ソフトウェアを発表
    Octane Elect EDS システムを発表

    2016年

    OIM Analysis™ v8.0を発表
    卓上走査電子顕微鏡 (SEM) 用のAPEX™ Analysis ソフトウェアを発売
    Octane Elite Plus および Super シリコンドリフト検出器 (SDD) を発表
    XLNCE SMX-ILH イン・ライン XRF 分析装置を発売

    2015年

    TEAM™ 4.3ソフトウェアの発売
    Octane Elite シリコンドリフト検出器 (SDD) シリーズを発表
    XLNCE SMX-BEN XRF 分析装置を発売

    2014年

    Element SDDシリーズを発売
    TEAM™ 3D Imaging and Quant (IQ) を発売
    微細構造を可視化し、材料に関する新しい視点を提供する相乗的な新しい画像化技術、Pattern Region of Interest Analysis System (PRIAS™) の紹介
    透過電子顕微鏡用のOctaneシリコンドリフト検出器シリーズを発表

    2013年

    より高速でより生産的なHikari XP カメラと DigiView EBSD カメラを発表
    TEAM™ NeptuneおよびTEAM™ Trident インテグレーションシステムを公開
    TEAM™分析システムの一部としてWDSを発表

    2012年

    EDAX設立50周年記念
    Octane シリコンドリフト検出器 (SDD) シリーズを発表
    EDSおよびEBSDインテグレーションシステム、TEAM™ Pegasus を発表

    2011年

    Orbis Micro-XRFシステム用の膜厚測定ソフトウェアを公開
    透過電子顕微鏡 (TEM) 用のApollo XLT SDDシリーズを発表

    2010年

    OIM 6.0 ソフトウェアを発表

  • 2000年代 +


    2009年

    TEAM™ EDS システムを発表
    Apollo X および XL シリコンドリフト検出器シリーズを発表

    2008年

    Orbis 微小部蛍光X線分析装置を発表
    APEX X線マイクロアナリシスシステムを発表
    DigiView IV 後方散乱電子回折検出器を発表
    Genesisで利用できる革命的な定性分析ソフトウェア、EXpert IDを発売

    2007年

    Apollo シリコンドリフト検出器シリーズを発表

    2006年

    EDAXおよびSPECTRO Analytical Instrumentsが、新たなAMETEK 材料分析部門の事業部門となる
    高速Hikari EBSD 検出器を発表
    OIM 3D データ収集・処理ツールを発表 
    LambdaSpec (TEXS) 波長分散型X線検出器を発表

    2005年

    TEXS HP 波長分散型X線検出器を発表
    Eagle III XPL 自動フィルターオプションを発表
    DigiView III CCD 検出器を発表

    2004年

    EDS、EBSD、WDSを組み合わせたTridentスリーインワン分析システムを発表
    高精度X線マイクロアナリシスのためにEDS、WDSを補完的に複合させたNeptuneを発表
    Genesisを用いたElement Detectiveを公開

    2003年

    第3世代のEagle µ-Probe マイクロフォーカスXRFを発表
    DigiView II ファイヤーワイヤーCCD 検出器を発表

    2002年

    新しいハードウェアと、Genesisソフトウェアによるマルチプル検出器に対応する、Genesisシステムを発表。
    EDS、EBSD同時分析に最適化した、Pegasusを発表
    マイクロアナリシス用の3つの新しい検出器、CryoSpec 液体窒素レスSi(Li)検出器、LambdaSpec (LEXS) 波長分散型X線検出器、MegaSpec シリコンドリフト検出器を発表
    EBSDの指数付けプロセスに元素情報を取り入れる、ChI-Scan™ソフトウェアを発売
    EDAX設立40周年記念
    EDAXはISO9001:2000 標準の再認定を獲得

    2001年 

    AMETEK Inc.がEDAX Inc.を買収
    Genesis EDS ソフトウェアを発表。柔軟性と能力を維持しながら、全体的な使いやすさを高める新しい基準を設定
    世界初の完全デジタルEBSD検出器、DigiView 高速・高分解能CCD検出器を発表

    2000年

    低真空SEMでの観察中に発生するビーム散乱を考慮して補正する、ユニークな定量分析機能、ViPソフトウェアを発売
    EBSD/EDS一体型 相同定製品、Delphiを発表
  • 1990年代 +


    1999年

    EDAXが後方散乱電子回折分析の業界リーダー、TexSEM Laboratories (TSL) を買収。
    TEM用自動結晶解析 (ACT) を発表

    1998年


    経済的で高い性能を誇るFalcon EDSシステムを発表

    1997年

    新世代のマイクロフォーカスXRF、EAGLE µ-Probeを発表
    PCプラットフォーム上のOIM EBSDシステムを発表
    世界初のOIM/EDS同時分析

    1996年

    Windows-NTベースのEDSシステム、Phoenixを発表
    あらゆるEDS検出器の中で最高の標準分解能を誇る、Sapphire検出器シリーズを発表

    1995年

    Windows-95ベースのEDSシステム、DX PRIMEを発表
    液体窒素を使用しない検出器、CryoSpecを発表

    1994年

    OIM開発チームが設立したTexSEM Laboratories (TSL) が、世界初の商用完全自動化EBSDシステムを発表

    1993年


    DX-95 XRFシステムを発表
    ISO 9001認証

    1992年

    世界初で最も普及したWindowsベースのEDSシステム、DX-4を発表
    EDAX独自のコンパクト型検出器 (CDU) を発表
    世界初の完全自動EBSDシステム ( OIM) を発表
  • 1980年代 +


    1987年

    PV9800 EDS X線マイクロアナリシスシステムを発表

    1985年

    PV9900 EDS X線マイクロアナリシスシステムを発表

    1984年

    世界初の商用EBSDシステム (TSLの前身により開発)

    1982年


    Dr. David Dingleyがブリストル大学で世界初のコンピュータによる後方散乱電子回折 (EBSD) システムを開発
  • 1970年代 +


    1979年

    PV9500 XRFシステムを発表

    1978年


    PV9100 EDS X線マイクロアナリシスシステムを発表

    1972年

    Nuclear DiodesからEDAX International, Inc.に社名変更
    世界初のウィンドウレス型検出器、ECONを発表
  • 1960年代 +


    1969年

    世界初の商用電子顕微鏡アプリケーション用X線分析システム、Nuclear Diodes 505 を発表

    1964年

    液体窒素冷却検出器を発表

    1962年


    Nuclear Diodesの社名で会社を設立