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EDAX Lambda WDSシステム

EDAX Lambda™ 波長分散型X線分析は精度が向上した最先端の装置で、材料分析で最良の結果を保証します。Lambda検出器はEDAX NeptuneTridentシステムに組み込まれ、エネルギー分散型X線分析(EDS)のピークの重複を解決することで分析精度が大幅に向上、また最小検出限界値が10倍向上し、正確な定量分析が可能になります。

Lambda WDSシステム

 

平行ビーム光学系に設計されたLambda検出器は下記のモデルがラインナップされています:

  • EDAX Lambda Plus – 遷移元素の最大効率を実現ポリキャピラリー光学系を搭載し、分析エネルギー範囲150 eV – 10 keV (B Kα~Ge Kα)
  • EDAX Lambda Super – ポリキャピラリーと高集光反射型X線光学系を組み合わせたデュアル設計により、軽元素(特にB、C、N、O)に対して究極の感度を実現
Si K とW MのEDS重複ピークの問題は、WDSで簡単に解決できます。
図1.Si K とW MのEDS重複ピークの問題は、WDSで簡単に解決できます。
スキャンモード

Lambda検出器はエネルギー範囲全体をスキャンして、周期表の各元素の少なくとも1本のX線ラインを測定可能です。スキャンモードのオプションには次のものがあります:

  • 1元素または複数の元素を自動収集
  • アプリケーションに合わせてスキャン範囲をカスタマイズ
  • ユーザーが選択可能なステップ サイズと速度
  • 選択した元素のピークモードとバックグラウンドモード
    • 直観的な周期表インターフェースを通じて元素を選択
    • ソフトウェアが使用する分光結晶や測定するピーク・バックグラウンド位置を提案
定性・定量分析

Smart Quantを備えたEDAX APEX™ ソフトウェアによって定性・定量分析が可能です。EDSとWDSのデータを同時収集し、重ね合わせ表示することで簡単に同定ピークの確認が出来ます。定量精度と検出限界を向上させるため、元素ごとに定量手法 (EDSまたはWDS)を選択できます。

特長と利点

コンパクトデザイン
  • ハイアングルポートを備えたすべての走査型電子顕微鏡 (SEM) チャンバーに適合
  • 標準EDSポートに取付可能 – 特別なチャンバーやポートは不要
感度
  • X線光学系とコンパクトな設計を組み合わせて優れたX線計数率を実現
SiC 中の C は、EDS と比較して WDS の優れたピーク分解能を示しています。
図2.SiC 中の C は、EDS と比較して WDS の優れたピーク分解能を示しています。
高い計数率とピーク対バックグラウンド比
  • 最高のエネルギー分解能で迅速な X 線分析が可能
  • 遷移元素のK線の優れたピーク分解能を実現
  • ほとんどの元素の重複を解決
位置合わせが容易
  • 自動化されたルーチンにより、データの操作、パフォーマンス、精度が向上
使いやすい APEX ソフトウェアでEDSとのシームレスな統合
  • EDSとWDSの直感的な操作
  • X線マイクロアナリシスの向上
  • 周期表の全体をカバー
スマートフォーカス

スマートフォーカスはAPEXソフトウェアに組み込まれた機能で、試料の高さを自動で調整して WDS のフォーカスを合わせ、検出器の最適なパフォーマンスを可能にします。

追加資料

製品速報
実験概要