Orbis 微小部蛍光X線分析装置

幅広いさまざまな種類と形状の試料を扱える柔軟な非破壊元素分析が可能になりました。最低限の試料調製。導電性処理不要。Orbis 微小部蛍光X線分析装置は、高速に、0.0001%~100%の濃度範囲を多元素同時にX線分析ができます。ユーザーは、XRFのあらゆる利点とシンプルさを活かしつつ、粒子、断片、含有物などの小さな試料の元素分析、または大きなサンプルの自動マルチポイント分析とマッピング分析を行うことができます。
Orbis Micro XRF Analyzer

これらの卓上分析装置は、ナトリウムからバークリウムまで、大気または低真空で元素を測定することができます。X線の透過力とより大きなスポットサイズを持つOrbis は、より大きなサイズの試料に対して、走査電子顕微鏡よりも適しています。EDAXの強力で使い易いVisionソフトウェアが、精密な元素分析を可能にします。

革新的なX線光学系/ビデオカメラの配置

Orbisには、より広範囲の試料配置に対応できるよう、最新のX線光学系と高性能ビデオカメラが、試料と直角になるように取り付けられています。この革新的な設計により「分析しているものをそのまま見る」ことが可能になりました。誤った測定結果につながるX線ビームの妨害を簡単に検出できます。カメラの視界が遮られている場合は、X線ビームが遮られています。凹凸試料を測定する際、X線ビームのシャドーイングが排除されます。さらに、設計上の作動距離を超えても、簡単に定性分析を行うことができます。

より幅広いアプリケーション

Orbisは、犯罪科学捜査、産業品質管理、非破壊検査、材料、エレクトロニクス、地質試料分析など、さまざまなアプリケーションに理想的な分析装置です。

製品ラインナップ

Orbis 微小部エネルギー分散型蛍光X線分析装置には、Orbis MCOrbis PC の2つの標準モデルがございます。EDAXはそれぞれのモデルに、さまざまなオプションをご用意しています。これら2つのモデルが、非常に精密な非破壊元素分析が必要な、幅広い種類のアプリケーションをカバーします。Orbis Visionソフトウェアは両方のモデルに対応します。