EDAXに関する掲載記事

  • {3}

    {1}

    {4}

    ダウンロード

  • 一味違う分析
    一味違う分析

    水曜日, 6月 12, 2019

    Kalin Dragnewski博士は、一味違う機器分析を実施しています。ステンレス鋼やチタン合金から火山砂やネズミの尻尾の腱まで、彼と彼の同僚のオックスフォード大学のLaboratory for In-situ Microscopy and Analysis (LIMA)は、一連の機器を使って無数の材料を分析しています。

    ダウンロード

  • Measurement of Grain Boundary Properties in Cu(In,Ga)Se2 Thin Films
    Cu(ln,Ga)Se2薄膜の粒界特性の測定

    木曜日, 2月 7, 2019

    半導体CulnSe2 (CIS) およびCu(ln,Ga)Se2(CIGS)の合金は、薄膜太陽光発電装置の軽量吸収層として、よく利用されます。これらの多結晶材料は、装置の性能を損なう恐れのある粒界が存在するものの、良好な変換効率に到達します。後方散乱電子回折(EBSD)を用いて、粒径分布や方位などの粒子特性を明らかにすることができます。EBSD法は、金属形成プロセスにおけるテクスチャと再結晶を決定するために、これまで広く使用されてきましたが、CIGS薄膜の特性評価に使用されることもあります。この記事では、異なる反応条件下で成長したCIGS薄膜の粒子特性の測定について説明します。

    ダウンロード

  • New Trends in Global Failure Analysis Market | Emerging Technology with prominent Key Players
    グローバルな故障解析分野のニュートレンド|キープレーヤーとの新技術

    日曜日, 11月 18, 2018


    故障解析の市場は2017年に5300.26百万ドルであり、予測期間中に8.6%の成長率で2026年には11150.26百万ドルに達すると予測されています。ナノテクや医療分野での故障解析機器の普及や、半導体の故障解析機器の技術進歩や用途の拡大は、市場を動かす要因の1つです。しかし、メンテナンスや設備コストが高いと、市場の成長を阻害する可能性があります。新興国における故障解析機器の需要は、市場へのチャンスを生み出す可能性があります。

    ダウンロード

  • AMETEK India Opens A Technology Solutions Center in Bangalore
    AMETEK IndiaがBangaloreにテクノロジーソリューションセンターを開設

    金曜日, 10月 12, 2018

    米国の電子機器・電気機械装置メーカー、AMETEK Instrumentsは、インドにおける電子機器・電気機械製品事業の成長を支えるために、Bangaloreのホワイトフィールドにある本社に、テクノロジーソリューションセンターを開設しました。

    ダウンロード

  • "Biomineralization as a Paradigm of Directional Solidification: A Physical Model for Molluscan Shell Ultrastructural Morphogenesis" in the September 2018 issue of Advanced Materials
    方向性凝固のパラダイムとしてのバイオミネラリゼーション:軟体動物の殻の超構造形態形成の物理モデル

    火曜日, 10月 2, 2018

    軟体動物の殻は、生体による鉱物形成の基本原理を理解するためのモデルシステムです。これらの組織を含む、型にはまらない鉱物形態と3D鉱物有機構造の多様性と、それらの比類ない機械効率を組み合わせることで、生体鉱物生成システムにおける形成、構造、機能の関係を研究するためのユニークなプラットフォームを提供します。しかし、これらの超構造については、まだほとんど解明されていません。ここでは、方向性凝固の概念に基づく包括的物理モデルを開発して、軟体動物の殻のバイオミネラリゼーションを描写します。殻全体の形態形成を導く、力と熱力学的制約を定義し、プリズムと真珠の超構造とその推移を構成し、超構造レベルとナノ構造レベルで鉱物化した構成要素の集合体の進化を司るモデルの能力を、二枚貝、Unio pictorumの殻を用いて説明します。そのために、新しいバイオインスパイアード材料およびバイオミメティクス・ボトムアップ材料の設計のための明確なツールを提供します。

    ダウンロード

  • "Conducting controlled in situ high temperature tensile tests within a SEM" from the July/August 2018 issue of Microscopy & Analysis
    SEM内での制御されたin situ高温張力試験の実施

    木曜日, 7月 12, 2018

    高度な機械制御と温度制御を用いて、SEM内でマグネシウム合金のin situ高温張力試験を実施する方法について詳細に説明します。マグネシウムが真空下で蒸発する可能性があることから、顕微鏡を損傷せずに試験を実施しようとする場合には、技術的困難を克服する必要があります。詳細な方法論が、局所的ひずみの不均質の増大と、基本的変形メカニズムの発生の関連に関する洞察を可能にしました。

    ダウンロード

  • In-situ study of crack initiation and propagation in a dual phase AlCoCrFeNi entropy alloy
    二相AlCoCrFeNi高エントロピー合金における亀裂の発生と伝播のIn-situ研究

    土曜日, 7月 1, 2017

    この研究は、引張荷重下の二相AlCoCrFeNi高エントロピー合金(HEA)における亀裂伝播の相分布の効果について報告します。合金はもろく不規則なBCC相があることが特徴です。これは均質化熱処理中に、延性FCC相の沈降によって強化することができます。2つの相をパーティション分割する応力とひずみは、この合金の機械的反応を決定するために最も重要です。有害なシグマ相の形成を防ぎ、脆弱なFCC相を沈降させるために、鋳放しの合金に、1273 Kで6時間の均質化処理を施しています。合金の変形の微視的メカニズムを理解するために、走査電子顕微鏡での後方散乱電子回折機能を用いたIn-situ張力試験を実施しました。BCC粒界におけるFCC相の沈降は、亀裂の偏向と分岐の伝播にFCC相が及ぼす効果を反映しました。2つの相の間のひずみパーティション分割と、方位差の分布の変化について研究を行いました。延性FCC高エントロピー相の存在が脆弱なBCC相に良好な室温延性を与えられることが観察されました。二相HEAに関する研究はほとんど行われていないため、脆弱なHEAを強化するために適切な微細構造設計を得て使用することができます。

    ダウンロード

  • Measurement of Grain Boundary Properties in Cu(In,Ga)Se2 Thin Films
    Cu(ln,Ga)Se2薄膜の粒界特性の測定

    水曜日, 5月 31, 2017

    半導体CulnSe2 (CIS) およびCu(ln,Ga)Se2(CIGS)の合金は、薄膜太陽光発電装置の軽量吸収層として、よく利用されます。これらの多結晶材料は、装置の性能を損なう恐れのある粒界が存在するものの、良好な変換効率に到達します。後方散乱電子回折(EBSD)を用いて、粒径分布や方位などの粒子特性を明らかにすることができます。EBSD法は、金属形成プロセスにおけるテクスチャと再結晶を決定するために、これまで広く使用されてきましたが、CIGS薄膜の特性評価に使用されることもあります。この記事では、異なる反応条件下で成長したCIGS薄膜の粒子特性の測定について説明します。

    ダウンロード

  • Improvements in SDD Efficiency - From X-ray Counts to Data
    SDD効率の改善 - X線の計数からデータまで

    水曜日, 3月 1, 2017

    窓材、検出器モジュール、および電子工学の継続的進歩によって、より高い計数率、軽元素のより高い感度、幅広い計数率でのエネルギー分解能の安定性が得られるようになりました。この記事では、試料からのX線の発生から、有用なデータの作成まで、EDSシステムの異なるパーツがどのように相互作用するのか、最近変更されたものに関して手短にレビューします。次に、この新しいテクノロジーの成果を3つの試料に適用し、得られる利点について説明します。

    ダウンロード

  • Introduction and Comparison of New EBSD Post-Processing Methodologies
    新しい EBSD ポストプロセッシングの紹介と比較 方法論

    火曜日, 12月 1, 2015

    後方散乱電子回折(EBSD)は、微細構造を特性化する有用な手法を提供します。しかし、サンプルによっては、指数付け可能な解析パターンを得るのが難しい場合があります。これはスキャンデータから再構築されたノイズのあるマップとなります。一般的に、指数付けされていない、または半分指数付けされた点の相関と走査グリッド内の近傍の点で得られた方位を基に、走査データを改良するための、さまざまな後処理方法が開発されました。(1) 局所的パターンの平均化を用いた再走査アプローチと、(2) トリプレット指数付け法によって得られる複数のソリューションを用いる方法の、2つの新しいアプローチが導入されました。これらの方法は、人工的に、またはEBSDカメラの操作設定によってパターンにノイズを入れたサンプルに適用されます。これらは重度に変形したサンプルや粒子の細かいサンプルにも適用できます。どのような場合であれ、どちらの技術でも走査データの結果を向上させることができますが、局所的パターンの平均化は、2つのうちでより優れた改善を実現します。ただし、パターン中のノイズが、試料自体に固有の問題ではなく、カメラの動作条件に起因する場合は、局所的パターンの平均化が、最も役立ちます。この研究の副産物は、さまざまな指数付け成功率評価基準の妥当性に関する洞察です。指数付け成功率を正確に評価するために、ある公差値(この場合は0.1)以上のCI値を持つ点の割合によって与えられる評価基準が承認されました。

    ダウンロード

  • High Spatial Resolution in X-ray Mapping
    高い空間分解能を持つX線マッピング

    水曜日, 7月 1, 2015

    半導体、マイクロエレクトロニクス、ナノテクノロジーやライフサイエンスなどの、さまざまな微量分析アプリケーションには、材料の特性に影響を及ぼす微妙な違いを理解するための、高分解能分析性能が要求されます。分解能という用語は、走査電子顕微鏡(SEM)ベースの微量分析の、いくつかの異なる側面を指しています。通常、これは非常に近い分析の2つの側面をシステムが分解または分割する能力として定義されます。画像化およびマッピングにおいて、「分解能」は物理的に近い距離にある2つのアイテムを視覚的に分割する能力として説明することができます。X線スペクトラムでは、これは、軽元素のピーク分割や低エネルギーX線ラインなど、ピークが狭い間隔のエネルギーに落ちる2つの元素を差別化する能力を意味します。

    ダウンロード

  • Elemental Analysis of Silicon in Plant Material with Variable-Pressure SEM
    可変圧力SEMを用いた植物性材料中のシリコンの元素分析

    日曜日, 3月 1, 2015

    生物学的植物性材料の細胞構造は、光・電子顕微鏡により、上手く特性評価されてきました[1]。走査電子顕微鏡(SEM)は、電子ビームを使用して試料の表面を走査することで、植物の細胞や組織、器官の外部形状を研究するのに役立ちます。分析SEMビームの状態は、通常、研究する試料の要件に合わせて調整されます。生物学的植物性試料の場合は、ビームによる組織の損傷を軽減するために、常に低電圧電子ビーム(1~5kV)を使用して試料表面の画像化を行います。この研究のように、いくつかの分析では、エネルギー分散型X線分析装置(EDS)を用いて、研究する材料の完全な特性評価を行うために、従来とは異なる動作条件が必要になります。SEMビームの状態を変えることで、植物性組織の上面または表面下の領域にある無機相をみつけることができます。

    ダウンロード

  • Electron Imaging with an EBSD Detector
    EBSD 検出器を用いた電子線画像化

    木曜日, 1月 1, 2015

    後方散乱電子回折(EBSD)は、走査電子顕微鏡(SEM)で、長さ数十ナノメートルからミリメートルの範囲で、結晶方位の微細構造的側面を特性評価するための有用なツールであることが証明されています。EBSDを使用するための高速デジタルカメラの出現により、後方散乱(または前方散乱)検出器に似た画像化デバイスとしてのEBSD検出器の使用が実用化されました。このような方法でEBSD検出器を用いることにより、従来のSEMを用いた方法による低速走査で取得するのと同じくらいの速度で、画像に表面形状、原子密度、および方位コントラストを表示することができます。高速取得は、5×5のピクセルパターンを得るのに十分な、カメラの極端なビニングによって実現します。このような高いビニングで捉えられたパターンは指数付けには適していません。ですが、画像化デバイスとして検出器を使用するのに、指数付けは必要ありません。代わりに、基本的に5×5のピクセルパターンにおいて個々の散乱電子検出器として各ピクセルを用いることで、5×5列の画像が形成されます。走査中に画像データを記録することにより、従来のEBSD走査速度で画像を形成することも可能です。あるいは走査の各点で記録されたパターンの後処理によって形成することもできます。このような画像は、与えられる通常の方位データと、エネルギー分散型X線分析装置(XEDS)を通じて同時に取得される化学データを用いた画像データの相関分析に役立ちます。

    ダウンロード

  • Using the Orbis Micro-XRF Spectrometer to Study the Microstructure of Ancient Roman Seawater Concrete
    Orbis 微小部蛍光X線分析装置を使用して古代ローマの海水コンクリートの微細構造を研究する

    月曜日, 9月 1, 2014

    古代ローマの建設者たちは、侵食性のある海水環境でも極めて長期間に渡って維持できるよう、海洋コンクリートを用いた港の構造を設計しました。

    ダウンロード

  • Orientation Precision of Electron Backscatter Diffraction Measurements Near Grain Boundaries
    ニッケルおよび窒素安定冷間加工されたオーステナイトステンレス鋼における双晶境界疲労亀裂の研究

    月曜日, 6月 23, 2014

    インプラント除去研究により、ステンレス鋼デバイスの不具合の主因は疲労と時間であり、疲労亀裂の発生に要する時間またはサイクルはしばしばインプラントの寿命の大半を使い果たすことが示されました。かなりの量の窒素を添加したステンレス鋼は、疲労応答が改善されることが示されましたが、面心立方結晶(FCC)材料の焼鈍双晶境界上またはこれに沿って、疲労亀裂が発生しやすくなる、奇妙な傾向も示されました。冷間加工インプラントグレードステンレス鋼に関する最近の比較研究において、窒素安定オーステナイト系鋼(HNASS)とニッケル安定オーステナイト系鋼の両方の前処理焼鈍双晶境界に沿って多数の疲労亀裂の発生がみつかりました。すべての双晶に亀裂発生が見られるわけではないため、これらの焼鈍双晶境界亀裂周辺に存在する結晶条件を特定するために、さらなる調査が行われました。この研究では、適用される荷重方向に関連する、前の焼鈍双晶の境界のそれぞれの亀裂の周囲に存在する結晶条件について調べました。前処理焼鈍双晶境界亀裂が、ブランドン基準により許容される方位差のずれの完全な範囲をを示すことが分かりました。亀裂の入った双晶境界のテクスチャは、材料全体のテクスチャに対して、ランダムであることが分かりました。HNASS鋼の亀裂の入った双晶境界面のほとんどは、高角で、多くの場合は、材料表面に対してほとんど垂直であることが示されました。ニッケル鋼は材料表面に対して、低い双晶面傾斜角度になる傾向があることが示されました。亀裂の入った双晶境界の周囲のすべての粒子について、高いシュミット因子が示された。これは各粒子が適用される荷重方向に対して滑る傾向があることを示している。両方の鋼の亀裂の入った双晶境界のほとんどに、高いテイラー因子の不釣合いも示された。これは位置特定されたひずみの不適合が、双晶境界亀裂のもう一つの重要な要因であることを示唆する、各粒子の予測された収量応答とは大きく異なることを示している。

    ダウンロード

  • Analysis of advanced ceramic materials with phase mapping energy-dispersive X-ray spectroscopy
    相マッピングエネルギー分散型X線分析装置を用いたアドバンストセラミックス材料の分析

    日曜日, 6月 1, 2014

    この記事では、従来のEDSの使用への、効果的で効率的な代用として、近代的なエネルギー分散型X線分析装置の相マッピングをどのように利用できるのかについて、その概要と、試料組成要素の特性を評価するための、XRD分析などの追加技術について説明します。わずかな変化でさえ、アドバンストセラミックス材料の性能特性に影響を及ぼすため、この分析法は幅広い製造および産業研究所で役立ちます。

    ダウンロード

  • Advanced Materials Characterization with Full-Spectrum Phase Mapping
    フルスペクトル相マッピングで高度な材料解析

    土曜日, 3月 1, 2014

    エネルギー分散型X線分析装置 (EDS) を用いた電子顕微鏡でのX線マッピングは、存在する元素の視覚的情報を提供することにより、定性的なX線マイクロアナリシスの基盤を構築します。試料内の元素を同定し、試料領域[1]の元素分布をマップ像に表示するマッピングルーチンが長年用いられてきました。通常、異なる元素マップを横に並べるか重ね合わせて視覚的に比較することにより、元素の組み合わせがどこに存在するかが示されます。マップの中のこれらの元素の組み合わせは、材料の化学的性質に対するより深い理解を与えてくれます。しかし、マップ像の比較はひとつの出発点に過ぎず、元素のフルスペクトルの微妙な差を利用していません。そのため、マップデータセットから全スペクトルの化学的性質を直接評価する、より洗練されたルーチンが設計され、高度な材料解析の強力な基盤を作るために、最新のシステムに組み込まれました。

    ダウンロード

  • TESCAN and the University of Alabama Announce the Addition of the LYRA XMU FIB-SEM Workstation to the UA Central Analytical Facility, a National Facility of Excellence for Atom Probe Applications Development
    TESCANとアラバマ大学は、アトムプローブアプリケーション開発の最新の国立施設である、UA中央分析センターへのLYRA XMU FIB-SEMワークステーションの追加を発表しました。

    水曜日, 11月 13, 2013

    ペンシルバニア州クランベリータウンシップ。--(ビジネスワイヤ)--走査電子顕微鏡と集束イオンビームワークステーションの世界的大手サプライヤー、TESCANが、最先端の国立研究施設である、アラバマ大学の中央分析センター(CAF)に、LYRA FIB-SEMワークステーションを納品しました。LYRAはFIB-SEMワークステーションで、アトムプローブトモグラフィーおよび透過電子顕微鏡の試料調製に使用します。将来的に、2次元ビューにおける化学分析と構造分析を提供するために、この装置がEDAX Pegasus EDS/EBSDシステム用に設定される予定です。

    ダウンロード

  • Improved Sensitivity with the New Apollo XRF ML-50 Detector on the Orbis Micro-XRF Analyzer
    Orbis 微小部蛍光X線分析装置のNew Apollo XRF ML-50検出器の感度が向上。

    金曜日, 2月 1, 2013

    微量元素の測定は、幅広いさまざまな材料特性化問題において重要です。犯罪現場や事故現場から採取された小さなガラス片を測定する時、科学捜査専門家は、特定または比較するための1つのポイントとして、通常、製造工程で意図せずにガラスに混入する、微量のストロンチウム(Sr)とジルコニウム(Zr)を分析します。

    ダウンロード

  • A new TriBeam system for three-dimensional multimodal materials analysis
    3次元マルチモーダル材料分析のための新しいTriBeamシステム

    金曜日, 2月 3, 2012

    超短パルス・フェムト秒レーザーの比類ない機能を、収束イオンビーム(FIB)プラットフォームに組み込んで、高速3D材料分析用の新しいシステムを開発しました。フェムト秒レーザーは、高い材料除去率での材料層ごとのin situ材料研磨を可能にします。超短(150fs)の高いパルス周波数(1kHz)のレーザーパルスは、周辺部分に熱損傷をほとんど与えることなく、材料研磨を生じさせることができます。これは中間的な表面処理やチャンバーからの試料除去を必要とせずに、高分解能の画像や、結晶分析、元素分析を可能にします。TriBeamシステムでは、DualBeamTM顕微鏡の高分解能と幅広い検出器機能に、フェムト秒レーザーの高い材料除去率を組み合わせることで、3D FIBデータセットよりも4~6桁速い速度で、3Dデータセットを取得できます。レーザーと電子光学のカップリングと、複数の分析位置へのステージの配置を可能にする設計の特長について議論します。初期in situ多層データについて紹介します。

    ダウンロード