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  • EDSおよびEBSDアプリケーションにおける分析効率の改善法
    EDSおよびEBSDアプリケーションにおける分析効率の改善法

    木曜日, 12月 12, 2019

    エネルギー分散型X線分光法（EDS）および後方散乱電子回折法（EBSD）は、評価解析を行う研究者にとって定評のあるマイクロアナリシスツールです。新しく開発されたハードウェアとソフトウェアにより、分析効率が向上しています。このウェビナーでは、EDAXのAPEX™およびOIM Analysis™ソフトウェアを使用した改善点を紹介し、ユーザーがより少ない労力でより多くを達成できる方法を紹介します。

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  • Clarity™による電子の直接検出　- EBSDパターンを新しい光で見る
    Clarity™による電子の直接検出　- EBSDパターンを新しい光で見る

    木曜日, 11月 21, 2019

    電子の検出における光学経路を無くし、EBSDパターンに寄与する回折電子を直接検出することで、パターン生成の詳細な分析が可能になります。このプレゼンテーションでは、従来のEBSD検出器と直接検出との違いにハイライトし、新しい可能性を探ります。

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  • APEX™ EBSD - 思いのままのEBSDデータ収集
    APEX™ EBSD - 思いのままのEBSDデータ収集

    木曜日, 10月 24, 2019

    EDAXのAPEX™ソフトウェアプラットフォームは、強力な分析エンジンと、編集可能で使いやすいインターフェースの組み合わせで、高品質なデータを迅速かつ効率的に収集できます。 EBSDデータ収集がAPEX™ソフトウェア上で可能になり、これまでのEDS情報に加えて、EBSD情報の同時収集が可能となります。このウェビナーでは、APEX™ EBSDの機能をご紹介し、最大4,500点/秒の測定スピードでのデータ収集が可能なVelocity™ 超高速EBSD検出器の実働状況もご覧頂けます。指数付けに関しては実績の高い3バンド法とその利点を説明し、またAPEXのユーザーインターフェースのカスタマイズや、データの表示方法など、すべてのユーザーの方の生産性を最大化できるような機能についてご紹介します。

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  • バックグラウンドモデリングと理想的ではないサンプルの分析法
    バックグラウンドモデリングと理想的ではないサンプルの分析法

    木曜日, 9月 26, 2019

    通常、サンプルのEDS分析は、相互作用ボリューム内に存在する元素に関連する特性X線を扱います。多くの場合、バックグラウンドまたは連続X線は無視されるか、分析の前に除去されます。しかし、バックグラウンドから貴重な情報が抽出でき、分析の条件が適しているかどうかを理解するのに使用できます。このウェビナーでは、バックグラウンド信号に含まれる情報と、この情報を使用して、サンプルの凹凸、粒子、帯電サンプルなどの理想的ではない条件で、分析結果を改善、最適化する方法を説明します。

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  • EBSDパターンのDynamic Simulation
    EBSDパターンのDynamic Simulation

    木曜日, 6月 27, 2019

    運動学的シミュレーションは、EBSDの発展に役立ちましたが、パターン内のバンド強度を現実的に捉える能力を欠いていました。近年、電子回折のDynamic Modelを用いたEBSDパターンのシミュレーションにおいて、大きな進歩がありました[1、2]。電子回折をより正確にシミュレーションする能力は、いくつかの方法で、更なるEBSDの開発に寄与しました。このウェビナーでは、電子回折のDynamic Simulationとそれに基づく3つの具体的なアプリケーション: Reflector optimization [3]、Dictionary indexing [4] Background generation について簡単に説明します。 [1] A. Winkelmann, C. Trager-Cowan, F. Sweeney, A. P. Day, P. Parbrook. (2007) “Many-Beam Dynamical Simulation of Electron Backscatter Diffraction Patterns”, Ultramicroscopy 107: 414-421. [2] P. G. Callahan, M. De Graef. (2013) “Dynamical Electron Backscatter Diffraction Patterns. Part I: Pattern Simulations”, Microscopy and Microanalysis 19: 1255-1265. [3] S. I. Wright, S. Singh, M. De Graef. (2019) “Reflector Selection for the Indexing of Electron Back-Scatter Diffraction Patterns”, Microscopy and Microanalysis 25: 675-681. [4] Y.H. Chen, S. U. Park, D. Wei, G. Newstadt, M.A. Jackson, J.P. Simmons, M. De Graef, A.O. Hero. (2015) “A dictionary approach to electron backscatter diffraction indexing”, Microscopy and Microanalysis 21: 739-752.

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  • 「EBSD微小部結晶方位解析装置用　超高速CMOS検出器のアプリケーション」のウェビナーをオンデマンドで見る
    EBSD微小部結晶方位解析装置用　超高速CMOS検出器のアプリケーション」のウェビナーをオンデ

    木曜日, 3月 29, 2018

    このウェビナーでは、新しいVelocity™CMOS搭載検出器を紹介し、数多くの応用例を紹介します。この新しい技術を利用した微小部結晶方位解析のストラテジーについても説明します。

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  • 「TEM用EDS：基礎と原理」ウェビナーをオンデマンドで視聴
    TEM用EDS：基礎と原理」ウェ

    木曜日, 2月 15, 2018

    このウェビナーでは、アプリケーションエンジニアであるJens Rafaelsen博士が、TEM特有の課題にフォーカスして、TEMでのX線発生、検出、および分析の基礎について説明します。

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