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  • 最近のOIM Analysisの解析機能の進化

    火曜日, 12月 16, 2025

    今回はOIM Analysis™9のGUIの変更、解析速度の向上を含め、OIM Analysisではどのような解析ができるのについて説明します。 OIM AnalysisにはIPFマップなどの結晶方位以外に方位差・結晶粒・相・指数付け・機械的特性等を解析するために50以上のパラメータを用意しており、材料の微細組織の定量的な解析を行うことができます。さらにそれぞれの解析時に定義変更や抽出を行うことで、非常に詳細な解析が可能になります。さらに、ハイライト機能を用いることで、マップデータとチャート、集合組織の分布をリンクさせ、相互関係を調べることが可能になります。また、Spherical indexingによるEBSD パターンの再指数付け機能が実装され、これまでEBSDにて分析することが難しかった材料の方位・相解析を行うことが可能になっております。
    OIM Analysis 9.1では基本的な機能のショートカットアイコンのカスタマイズ機能やカスタムテンプレートを使用することのできる新しいリボンレイアウトを導入しました。
    リボンデザイン導入に合わせ、リボン部から直接テンプレートの適用や図の出力、一部の簡易的な条件設定変更をできるようになりました。 過去を踏襲していたすべてのコードを書き直し、マップの描画・図の保存・各種計算を非常に高速で行うことができるようになりました。 このウェビナーでは、OIM Analysis9を用いて、基本的なデータ解析から応用的な解析方法に関してご紹介します。

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  • 波長分散型X線分光法の実際：使用方法、設定、最適化

    木曜日, 11月 20, 2025

    このウェビナーでは、波長分散型X線分光法（WDS）について、その活用方法、微量分析において不可欠なツールであり続ける理由、そして測定結果を最大限に活用する方法を解説します。セットアップとキャリブレーションに関する重要な考慮事項、実用的なワークフローや戦略、そして精度と効率を最適化するための専門家のヒントについても解説します。WDSを初めてご利用になる方、あるいは技術の向上を目指している方など、このウェビナーはWDSを活用した信頼性の高い高分解能な元素分析に役立つでしょう。

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  • 地質材料におけるEBSDの進歩：Spherical index法とマスターパターンシミュレーションの影響

    木曜日, 11月 13, 2025

    電子後方散乱回折（EBSD）分析における最近の進歩、特にHough変換ベースの指数付けからSpherical indexへの移行とマスターパターンの活用は、地質材料の特性評価を大幅に改善しました。従来の方法は、粗い表面、不鮮明なパターン、複雑な結晶構造にしばしば苦戦し、指数付けの成功率が低かった。Spherical indexは、EBSDパターン全体をマスターパターンに照合することでこれらの課題を解決し、従来手法では見逃されていた微細な結晶学的詳細を捉えます。シミュレーションではなく実験的に取得したパターンを使用することで、特に固溶体や多相鉱物のような困難な試料において精度がさらに向上します。
    この新手法は角度精度も向上させ、多くの鉱物に共通する方位勾配や擬似対称性の検出精度を高めます。菊池バンドだけでなくパターン全体の情報を利用することで、より高感度の相識別と高品質なEBSDデータが得られます。本ウェビナーでは、Spherical index法が地質試料の解析をいかに高次元化し、信頼性が高く洞察に富む結果をもたらすかを探ります。

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  • EDAX Orbis II でマイクロXRF分析の新たなレベルを体験

    木曜日, 9月 25, 2025

    実績のあるEDAX® Orbis™システムをベースに開発されたOrbis IIは、比類のないスループット、優れた感度、そして直感的な次世代ソフトウェアインターフェースを備え、マイクロXRF分析の新たなベンチマークを確立します。革新的な設計により、幅広いアプリケーションにおいて正確かつ効率的な元素分析を実現します。EDAX Orbis IIが分析能力を向上させ、ワークフローを効率化し、より迅速かつ正確な結果を自信を持って得るためにどのように役立つか、ぜひウェビナーにご参加ください。

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  • Spherical Index法によるEBSDの進化

    木曜日, 3月 13, 2025

    AMETEK/EDAX社にて開発されたEBSDの解析ソフト OIM Analysis９は、シミュレーションパターンを用いた高精度指数付けソフトウェアがオプションとして装備されています。

    本手法は角度空間上でシミュレーションパターンと実験パターンを比較することを行うことで、効率的に指数付けを行うことができ、１秒間に１万点以上の指数付けが可能になっております。

    従来のHough変換による指数付け法に比べ、ノイズの多いパターンの指数付けに強く、高い角度分解能の向上や、高度な相分離が可能になるという優れた特徴があります。

    本セミナーでは、Spherical Indexの原理と従来の指数付け法との違い、実際の解析事例を中心に紹介させていただきます。

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  • 方位解析と解析・レポート機能の進化: OIM Analysis 9によるEBSDパターン再指数付け法の進化と解析・レポート作成機能

    木曜日, 2月 27, 2025

    後方散乱電子回折法のデータ解析は、種々のパラメータのマップと統計的に処理されたチャートで構成されます。昔からEDAX OIM Analysis™ではIPFマップや粒径分布といったよく使う機能に関してはアイコンをマウスで 1 回クリックするだけで簡単に作成できるようになっています。また、結晶方位以外に方位差・結晶粒・相・指数付け・機械的特性等を解析するために50以上のパラメータを用意しており、材料の微細組織の定量的な解析を行うことができます。さらにそれぞれの解析時に定義変更や抽出を行うことで、非常に詳細な解析が可能です。さらに、ハイライト機能を用いることで、マップデータとチャート、集合組織の分布をリンクさせ、相互関係を調べることが可能になります。また、Spherical indexingによるEBSD パターンの再指数付け機能が実装され、これまでEBSDにて分析することが難しかった材料の方位・相解析を行うことが可能になっております。
    すべての機能をより使いやすくするために、OIM Analysis 9.1では基本的な機能のショートカットアイコンのカスタマイズ機能やカスタムテンプレートを使用することのできる新しいリボンレイアウトを導入しました。例えば、品質管理や一連の実験データ解析で繰り返し同じ条件で解析を行う必要がある場合、解析はテンプレートで一度定義するだけでよく、リボンバーから直接簡単に繰り返すことができます。このようなテンプレートは、データ収集終了後に自動生成されるカスタムレポートの作成にも使用できます。このウェビナーでは、基本的なデータ解析から自動レポート作成まで、OIM Analysis 9.1のワークフローと機能についてご紹介します。

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