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  • バックグラウンドモデリングと理想的ではないサンプルの分析法
    バックグラウンドモデリングと理想的ではないサンプルの分析法

    木曜日, 9月 26, 2019

    通常、サンプルのEDS分析は、相互作用ボリューム内に存在する元素に関連する特性X線を扱います。多くの場合、バックグラウンドまたは連続X線は無視されるか、分析の前に除去されます。しかし、バックグラウンドから貴重な情報が抽出でき、分析の条件が適しているかどうかを理解するのに使用できます。このウェビナーでは、バックグラウンド信号に含まれる情報と、この情報を使用して、サンプルの凹凸、粒子、帯電サンプルなどの理想的ではない条件で、分析結果を改善、最適化する方法を説明します。

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  • EBSDパターンのDynamic Simulation
    EBSDパターンのDynamic Simulation

    木曜日, 6月 27, 2019

    運動学的シミュレーションは、EBSDの発展に役立ちましたが、パターン内のバンド強度を現実的に捉える能力を欠いていました。近年、電子回折のDynamic Modelを用いたEBSDパターンのシミュレーションにおいて、大きな進歩がありました[1、2]。電子回折をより正確にシミュレーションする能力は、いくつかの方法で、更なるEBSDの開発に寄与しました。このウェビナーでは、電子回折のDynamic Simulationとそれに基づく3つの具体的なアプリケーション: Reflector optimization [3]、Dictionary indexing [4] Background generation について簡単に説明します。 [1] A. Winkelmann, C. Trager-Cowan, F. Sweeney, A. P. Day, P. Parbrook. (2007) “Many-Beam Dynamical Simulation of Electron Backscatter Diffraction Patterns”, Ultramicroscopy 107: 414-421. [2] P. G. Callahan, M. De Graef. (2013) “Dynamical Electron Backscatter Diffraction Patterns. Part I: Pattern Simulations”, Microscopy and Microanalysis 19: 1255-1265. [3] S. I. Wright, S. Singh, M. De Graef. (2019) “Reflector Selection for the Indexing of Electron Back-Scatter Diffraction Patterns”, Microscopy and Microanalysis 25: 675-681. [4] Y.H. Chen, S. U. Park, D. Wei, G. Newstadt, M.A. Jackson, J.P. Simmons, M. De Graef, A.O. Hero. (2015) “A dictionary approach to electron backscatter diffraction indexing”, Microscopy and Microanalysis 21: 739-752.

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  • 「EBSD微小部結晶方位解析装置用　超高速CMOS検出器のアプリケーション」のウェビナーをオンデマンドで見る
    EBSD微小部結晶方位解析装置用　超高速CMOS検出器のアプリケーション」のウェビナーをオンデ

    木曜日, 3月 29, 2018

    このウェビナーでは、新しいVelocity™CMOS搭載検出器を紹介し、数多くの応用例を紹介します。この新しい技術を利用した微小部結晶方位解析のストラテジーについても説明します。

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  • 「TEM用EDS：基礎と原理」ウェビナーをオンデマンドで視聴
    TEM用EDS：基礎と原理」ウェ

    木曜日, 2月 15, 2018

    このウェビナーでは、アプリケーションエンジニアであるJens Rafaelsen博士が、TEM特有の課題にフォーカスして、TEMでのX線発生、検出、および分析の基礎について説明します。

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