後方散乱電子回折 (EBSD)
CrSi2
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この材料は、[0001] 軸回りの 30°の粒界によって分けられた2つの方位を持つ結晶粒からできています (黄色で示される部分)。
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ECAE加工１パス後の純クロム。
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Wadsack (2006年) 「Fracture Behaviour and Severe Plastic Deformation of Chromium.(クロムの破壊挙動と超塑性変形)」Ph.D.Institut für Metallphysik der Montanuniversität Leoben und am Erich Schmid Institut für Materialwissenschaft der Österreichische Akademie der Wissenschaften
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2205 二相ステンレスのPRIAS™ 方位コントラスト
微小部蛍光X線分析装置 (マイクロ-XRF)
カットされた天然ルビーの「テーブル」から得たサンプル。天然ルビーの分析において特に関心が高いのは、ルビーの地質学的起源を同定するために使用できる、Ti、V、Cr、FeおよびGaの各元素です。
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基準方位、0度で測定されたルビーの EDXRF 測定回折ピークは星印で示されます
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90度で測定されたルビーのEDXRF測定
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180度で測定されたルビーのEDXRF測定
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ルビー測定において、干渉する回折ピークを排除する、0度、90度と180度でのEDXRFスペクトルの組み換え