S. I. Wright、D. P. Field、M. M. Nowell (2005年) 「Impact of Local Texture on Recrystallization and Grain Growth via In-Situ EBSD. (In-SituEBSD解析による、局所組織の再結晶および結晶粒成長への影響。)」Proceedings of the Fourteenth International Conference on Textures of Materials (第14回国際材料組織会議議事録)、Materials Science Forum、第495号- 497号に掲載。編集:P. Van Houtte、L. Kestens、Trans Tech.、スイス、p1121- p1130。
良好なクリープ強度と酸化耐性を備えたコバルト基合金
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粒界表示を重ね合わせたクリープされた試料のEBSD grain averaged image qualityマップ赤色の影のついた粒界はランダムな大角粒界 (>10°)、青色の影のついた粒界は対応粒界です。黒の太線は破粒界割れを示します。
C.J.Boehlert、S.C.Longanbach、M. Nowell、S.I. Wright (2008年) 『The Evolution of Grain Boundary Cracking Evaluated Through In-Situ Tensile-Creep Testing of Udimet alloy 188 (Udimet合金188のIn-Situ引張クリープ試験による粒界破壊の評価)』Journal of Materials Research 弟23号: p500 - p506。